半導(dǎo)體封裝制程中至少需要4次光檢，人員利用顯微鏡在不同的倍率下執(zhí)行抽檢或全檢，存在效率低下、人員視力疲憊、缺陷漏檢等現(xiàn)象，產(chǎn)品的質(zhì)量難以得到保證；托普科實(shí)業(yè)致力于SMT整線解決方案提供商，為半導(dǎo)體封裝企業(yè)提供全工藝段的AOI檢測(cè)系統(tǒng)和工藝信息化質(zhì)量管理系統(tǒng)，協(xié)助企業(yè)改善質(zhì)量管理體系。

3D Wafer Bump（晶元錫焊）、Wire Bonding（引線鍵合）AOI檢測(cè)系統(tǒng)

高精度3D Wafer（晶元）檢測(cè)精密解析度配置可實(shí)現(xiàn)針對(duì)Foot形態(tài)元件的整體檢測(cè)
可直接檢測(cè)鏡面元件，避免反光問(wèn)題
奔創(chuàng)特有的3D技術(shù) 實(shí)現(xiàn)元件的精準(zhǔn)3D成型，機(jī)器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測(cè)。
支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案